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vol.38 走査電子顕微鏡(SEM)を活用した製品や技術の評価

vol.38 走査電子顕微鏡(SEM)を活用した製品や技術の評価

お客様により良い製品、信頼できる製品をお届けするために、FUTA・Qでは、製品や技術を適切に評価、確認することが大切だと考えています。 今回のMail Magazineでは、元素分析装置(EDS)を搭載した卓上走査電子顕微鏡(SEM)を加工技術の開発や高度化、製造条件の適正化、製品品質の確認などに活用した事例をご紹介します。

■ 細径多段ロングテーパー加工ワイヤー〔医療機器用途など〕

ミクロンレベルの表面状態確認
SEM/EDS装置を用いたφ0.04 mm加工部位の観察事例(SUS304V_テーパーワイヤー)

荒れた加工面のSEM画像
荒れた加工面
滑らかな加工面のSEM加工
滑らかな加工面
ロングテーパーワイヤーの製品イメージ図

■ スリットパターン加工パイプ〔医療機器用途など〕

ミクロンレベルのスリット形状確認
SEM/EDS装置を用いたスリット形状の観察事例(NiTi_スリットパイプ)

スリッド凸凹化のSEM画像
スリットの凸凹化
スリッドのスムーズ化のSEM画像
スリットのスムーズ化
細径パイプ加工例

>■ 針先加工品〔医療機器用途、分析機器用途など〕

ミクロンレベルの針先エッジ形状確認
SEM/EDS装置を用いた針先エッジ形状の観察事例(SUS304_ニードル)

ラフなエッジ形状のSEM画像
ラフなエッジ形状
シャープなエッジ形状のSEM画像
シャープなエッジ形状
ランセット加工の製品イメージ図

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