vol.38 走査電子顕微鏡(SEM)を活用した製品や技術の評価

お客様により良い製品、信頼できる製品をお届けするために、FUTA・Qでは、製品や技術を適切に評価、確認することが大切だと考えています。 今回のMail Magazineでは、元素分析装置（EDS）を搭載した卓上走査電子顕微鏡（SEM）を加工技術の開発や高度化、製造条件の適正化、製品品質の確認などに活用した事例をご紹介します。

■ 細径多段ロングテーパー加工ワイヤー〔医療機器用途など〕

ミクロンレベルの表面状態確認
SEM/EDS装置を用いたφ0.04 mm加工部位の観察事例(SUS304V_ﾃｰﾊﾟｰﾜｲﾔｰ)

■ スリットパターン加工パイプ〔医療機器用途など〕

ミクロンレベルのスリット形状確認
SEM/EDS装置を用いたｽﾘｯﾄ形状の観察事例(NiTi_ｽﾘｯﾄﾊﾟｲﾌﾟ)

■ 針先加工品〔医療機器用途、分析機器用途など〕

ミクロンレベルの針先エッジ形状確認
SEM/EDS装置を用いた針先ｴｯｼﾞ形状の観察事例(SUS304_ﾆｰﾄﾞﾙ)

☆ FUTA・Qでは、お客様の望まれるより良い製品をお届けできるように精進してまいります。

「走査電子顕微鏡(SEM)を活用した製品や技術の評価」のPDFはこちら